Modern Telas de LEDdependem da eletroluminescência de semicondutores, onde chips InGaN/GaN emitem luz azul (450 nm) convertida em luz branca por meio de revestimento de fósforo. Monitores de última geração alcançam escala de cinza de 16 bits, taxas de atualização de 3840 Hz e brilho de 5.000 nits para aplicações externas.
Tipo:InGaN blue chips (pacotes 2835/1010)
Especificações:
Comprimento de onda: 450±2nm
Tensão direta: 2,8-3,4 V @20 mA
Eficácia luminosa: ≥180 lm/W
Material | Propriedades | Aplicativo |
---|---|---|
Resina epóxi | Índice de refração 1,53, ΔYI <2 | LEDs de LÂMPADA |
Silicone | Transmitância 95%, CTE 250ppm | LEDs SMD/Mini |
EMC | Sem halogênio, TG 150℃ | Expositores Automotivos |
PCB de alumínio: Condutividade térmica ≥2,2W/m·K, espessura de Cu 35±5μm
PCB de cerâmica: Substratos de AlN (24 W/m·K) para matrizes de LED de alta potência
Adesivo:Epóxi de prata (80% de teor de Ag)
Cura: 150℃/1h, espessura da linha de ligação 25±5μm
Precisão: Erro de posicionamento ≤±15μm
Arame: 99,99% Au, diâmetro 1,0 mil
Parâmetros: Potência ultrassônica 50W, força 30g, tempo de ciclo 0,3s
Processo: Envasamento a vácuo (≤1kPa, desgaseificação de 30min)
Cura: 135℃/4 horas, diâmetro da bolha ≤30μm
Formação de pinos: Corte de cisalhamento ±0,1 mm de tolerância
Binning: Comprimento de onda ±2nm, intensidade luminosa ±5%
Estêncil: Aço inoxidável cortado a laser, espessura de 0,12 mm
Solda: Liga SAC305, volume 80-120μm (monitorado por SPI)
Máquina: Pick-and-place de alta velocidade (30.000 CPH)
Precisão: ±0,03mm (X/Y), ±0,5° (θ)
Perfil:
Pré-aquecimento: 1-2℃/s a 150℃
Pico: 245℃ (60s acima de 217℃)
Atmosfera: Nitrogênio (O₂ <1.000ppm)
Moldagem: Processo de transferência @8-12MPa, 150℃/180s
Corte a laser: Laser UV de 355 nm, potência de 5 W, velocidade de 100 mm/s
Decolagem a laser (LLO):
Taxa de transferência: 99,99% (P&D), 99,9% (produção)
Precisão: posicionamento de ±1,5μm
Densidade de Pixels: 100-200 PPI
Encapsulamento: Enchimento epóxi preto (ΔE <1,5)
AEC-Q102: Operação de -40℃ a 125℃, 85℃/85% UR/1.000h
Teste de vibração: Choque 50G (Método MIL-STD-883 2002)
AOI: Detecção de defeitos ≥99,9% (pontes de solda, peças faltantes)
Raio X: Vazamento <15% em juntas de solda
Teste | Condições | Requisitos |
---|---|---|
Ciclismo Térmico | -40℃ ↔85℃, 1.000 ciclos | Manutenção de lúmen ≥97% |
Spray de sal | 5% NaCl, 96h | Área de corrosão ≤3% |
RÁPIDO | 130℃/85% UR, 96h | E ≥100MΩ |
Esfera Integradora: Tolerância CCT ±150K, CRI ≥80
Ângulo de visão: ≥140° horizontal/vertical, queda de brilho ≤50%
Nível MSL: Nível 3 (72 horas de vida útil do piso a 30℃/60% UR)
Embalagem seca: <10% UR com dessecante
ISTA 3A: Sobrevive a quedas de 1,2 m e impactos de 50 G
Segurança: UL/cUL, CE, CCC
Ambiental: RoHS 2.0, REACH SVHC <0,1%
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